Розробка методу проведена на чавуні, що містить % :
3,00 -3,6 С; 2,5 – 2,9 Si; 0,55 – 0,85 Mn; 0,06 – 0,13 P; 0,006-0,040 S; 0,1 Cr; 0,05 Ni; 0 – 0,09 Mg,
виплавленого в електродугові печі ДСП-1,5 і модифікованого зростаючими присадками лігатури ЖКМ-2 (8,75 % Mg; 55% Si; залишок - Fe ).
Індекс графіту визначали по формулі: Jr = a I z /L,
Де аі – сума максимальної довжини чи діаметра врахованих ( попавших в перехрестя ниток окуляра при переміщенні шліфа на предметним столиком оптичного мікроскопа ) включень графіту в деяких окулярах шкали; z – ціна одного ділення окулярної шкали, мм; L – довжина підрахунку (випадковий сітчастий), мм.
Із формули видно, що значення Jr буде тим вище, чим більше графіту в чавуні і чим більше форма його включень відрізняється від кулеподібної.
Представлена схема визначення графіту. У відношенню прийнятою методикою, при переміщенні шліфа (у нашому випадку горизонтально) на предметному столику мікроскопа на величину Lі будуть враховані три включення графіту пересічення перехресними нитками окуляра і маючи максимальний розмір L1, L2, L3, відношення (L1, L2, L3 )/L1. представляє собою індекс графіту в даному випадку [29].
При розробці методу необхідно було вирішити три практичні задачі: а) визначити розмірні групи графітових включень, забезпечуючи необхідну точність і оперативність розрахунків; б) визначити об’єм аналізу (довжину підрахунку), що відповідає здатній заданою (+- 10%) точності визначення індексу графіта; в) забезпечити достатньо високу продуктивність аналізу.